Memory

Устройство памяти

 

 

 

^M (Bit)

(ns)

Iff№ (V)

ВЛ№

 

 

Device Model

Type

Radiation Hardness

Capacity (Bit)

Access Time (ns)

Operating Voltage (V)

Input Level

Package

Compatible Model

Модель

Тип

Радиационная

стойкость

Ёмкость

(Бит)

Время доступа (нс)

Рабочее

напряжение

(В)

Входной

уровень

Типы

корпусов

Совместимая

модель

B7156ARH

SRAM

 

32Kx8

40

5

TTL

CDIP28

UT7156

B65608EARH

SRAM

 

128Kx8

45

5

TTL

CQFP68

M65608E

B8R128K32RH

SRAM

 

128Kx32

15

Core:1.8

I/O:3.3

CMOS

CQFP68

UT8R128K32

B8CR256K32RH

SRAM

 

256Kx32

25

Core:1.8

I/O:3.3

CMOS

CQFP68

--

B8R512K8ARH

SRAM

 

512Kx8

17

Core:1.8

I/O:3.3

CMOS

CFP36

UT8R512K8

B9Q512ERFC

SRAM

TID > 100krad(Si)

SEL > 75MeV • cm2/mg

SEU Error Rate < 1E-10

512Kx8

20

Single power supply 5 or 3.3

TTL

CFP36

UT8Q512E

UT9Q512E

B8CR512K32ARH

SRAM

error/bit-day in Geosynchronous Orbit

512Kx32

19

Core:1.8

I/O:3.3

CMOS

CQFP68

UT8CR512K32

B9Q512K32ERH

SRAM

 

512Kx32

25

5 or 3.3

TTL

CFP68

UT8Q512K32E

UT9Q512K32E

B8R512K39RH

SRAM

 

512Kx39

Read: 20 Write:10

Core:1.2

I/O:3.3

CMOS

CQFP84

--

B8CR1M32RH

SRAM

 

1Mx32

Read: 20 Write:10

Core:1.2

I/O:3.3

CMOS

CQFP84

UT8ER1M32

B8CR1M39RH

SRAM

 

1Mx39

Read: 20 Write:10

Core:1.2

I/O:3.3

CMOS

CQFP84

UT8R1M39

B8CR2M32RH

SRAM

 

2Mx32

Read: 20 Write:10

Core:1.2

I/O:3.3

CMOS

CQFP84

UT8ER2M32

 

ш

 

^S (Bit)

(ns)

!№№ (V)

ВЛ№

 

 

Device Model

Type

Radiation Hardness

Capacity

(Bit)

Access Time (ns)

Operating

Voltage (V)

Input Level

Package

Compatible

Model

Модель

Тип

Радиационная

стойкость

Ёмкость

(Бит)

Время доступа (нс)

Рабочее

напряжение

(В)

Входной

уровень

Типы

корпусов

Совместимая

модель

*B8CR2M40RQC

SRAM

 

2Mx40

Read: 20 Write:10

Core:1.2

I/O:3.3

CMOS

CQFP84

--

*B8Q2M40RQC

SRAM

 

2Mx40

Read: 20 Write:10

3.3

CMOS

CQFP84

--

*B8Q1M40RQC

SRAM

TID > 100krad(Si)

SEL > 75MeV • cm2/mg SEU Error Rate < 1E-10 error/bit-day in Geosynchronous Orbit

1Mx40

Read: 20 Write:10

3.3

CMOS

CQFP84

--

B7134RH

Dual port SRAM

4Kx8

35

5

TTL

CDIP48

IDT7134

B7006RH

Dual port SRAM

16Kx8

40

5

TTL

CQFP68

IDT7006

*B1480RH

SYNC

SRAM

 

2Mx36

Operating frequency: 250MHz

Vdd:3.135V ~ 3.6V Vddq: 2.375V ~ 2.625V or 3.135V ~ vdd

CMOS

CBGA165

CY7C1480V33

*B1472RH

NOBL

SRAM

 

4Mx18

Operating frequency: 167MHz

Vdd:3.135V ~ 3.6V Vddq: 2.375V ~ 2.625V or 3.135V ~ vdd

CMOS

CBGA165

CY7C1472BV33

*B1245RH

QDR

SRAM

TID > 300krad(Si)

SEL > 75MeV • cm2/mg SEU Error Rate < 1E-10 error/bit-day in

1Mx36

Operating frequency: 250MHz

Vdd:1.8,

I/O: 1.4 ~ vdd

HSTL

CCGA165

CY7C12451KV18

*B1545RH

QDR

SRAM

2Mx36

Operating frequency: 250MHz

Vdd:1.8,

I/O: 1.4 ~ vdd

HSTL

CCGA165

CYRS1545AV18

*B1645RH

QDR

SRAM

Geosynchronous Orbit

4Mx36

Operating frequency: 400MHz

Vdd:1.8,

I/O: 1.4 ~ vdd

HSTL

CBGA165

CY7C1645KV18

*B4142RH

QDR

SRAM

TID > 300krad(Si)

SEL > 75MeV • cm2/mg SEU Error Rate < 1E-10 error/bit-day in Geosynchronous Orbit(add EDAC)

4Mx36

Operating frequency: 933MHz

Vdd:1.3,

I/O: 1.2±0.05

HSTL

CCGA361

CY7C4142KV13

B7204ARH

Asynchronous

FIFO

TID > 100krad(Si)

SEL > 75MeV • cm2/mg

SEU > 37MeV- cm2/mg

4Kx9

25

5

TTL

CDIP28

IDT7204

B6664RH

PROM

 

8Kx8

60

5

TTL

CDIP28

HS-6664RH

B28F256RH

PROM

 

32Kx8

60

5

TTL

CFP28

CDIP28

UT28F256QLE

B28F256LVRH

PROM

 

32Kx8

65

3.3

CMOS

CFP28

CDIP28

UT28F256LVQLE

B28F1024RH

PROM

TID > 100krad(Si)

32Kx32

60

5

TTL

CQFP64

--

*B28F32K40LVRQC

PROM

SEL > 75MeV^ cm2/mg

SEU > 37MeV^ cm2/mg SEU(memory cell)

> 75MeV-cmVmg

32Kx40

60

3.3

CMOS

CQFP68

--

B18V04RQC

FLASH

4M

Operating frequency: 20MHz

3.3

TTL

CQFJ44

XQR18V04

B17V16RQC

PROM

 

16M

Operating frequency: 20MHz

3.3

CMOS

CQFJ44

XQR17V16

B17V64RQC

PROM

 

64M

Operating frequency: 33MHz

3.3

CMOS

CQFJ44

--

*B17V128RQC

PROM

 

128M

Operating frequency: 33MHz

3.3

CMOS

CQFP68

--

*B29GL128RSC

FLASH

TID > 100krad(Si)

SEL > 75MeV^ cm2/mg

SEU > 37MeV^ cm2/mg SEU(memory cell)

> 75MeV^cm2/mg

128M

120

2.7 ~ 3.6

CMOS

CSOP56

S29GL128S

*B29GL256RSC

FLASH

256M

120

2.7 ~ 3.6

CMOS

CSOP56

S29GL256S

 

 

(bit)

wm

жшда/

(MSPS)

(V)

(mW)

«тел

INL

(LSB)

DNL

(LSB)

SNR

(dB)

SFDR

(dBc)

 

 

Device

Model

Radiation

Hardness

Resolu­

tion

(bit)

Channels

Update/

Sample

Rate (MSPS)

Operating

Voltage

(V)

Power

Consump­

tion

(mW)

Analog

Input

Range

INL (LSB)

DNL

(LSB)

SNR

(dB)

SFDR

(dBc)

Package

Compatible

Model

Модель

Радиационная

стойкость

Разреш­

ение

(Бит)

Количе­

ство

каналов

Коэффициент

обновления

данных/

Частота

дискретизации

(Мвыб./с)

Рабочее

напряж­

ение

(В)

Потребля­

емая

мощность

(МВт)

Диапазон

аналого­

вого

входа

Интеграл­

ьная

нелинейн­

ость

(младший

бит)

Диффере­

нциальная

нелиней­

ность

(младший

бит)

Отноше­

ние

сигнал/

шум

(dB)

SFDR

(dBc)

Типы

корпусов

Совмест­

имая

модель

B9288ARQC

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV • cm2/mg

8

2

100

3

180

1Vp-p

±1.5

±1

43

50

CQFP48

AD9288

B08D1000RH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV • cm2/mg

8

2

1000

1.9

1600

0.56~

0.84Vp-p

±3

±1

43

47

CQFP128

ADC08D1000

B083000RQC

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV • cm2/mg

8

1

3000

1.9

1900

0.56~

0.84Vp-p

±2

±1

40

45

CQFP128

ADC083000

B7892RH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

SEU > 37MeV•

cm2/mg

10

1

0.5

5

150

-10V ~

+ 10V

±1.5

±1.5

54

65

CDIP24

AD7892

B7892-5RH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

SEU > 37MeV•

cm2/mg

10

1

0.5

5

150

0 ~ 5V

±1.5

±1.5

53

64

CDIP24

AD7892

B2543ARH

TID > 60Krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

12

11

0.066

5

10

0 ~ 5V

±1.5

-1 ~ +1.5

--

--

CDIP20

TLC2543M

B128S102RH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

12

8

1

2.7~

5.25

5

0~Vcc

±2

-0.9. +1.9

67

75

CFP16

ADC128S102

QML-SP

B12D1000RH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

12

2

1000

1.9

3200

0.6

~ 1Vp-p

±6

±1

52.3

57

CCGA376

ADC12D1000

B12D1600RAB

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

12

2

1600

1.9

3600

0.6

~ 1Vp-p

±6

±1

51.1

55

CCGA376

ADC12D1600

QML-SP

*B12DJ3200RBB

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

12

2

3200

1.2/1.9

3000

0 ~ 1Vp-p

±6

±1

52

60

CBGA144

ADC12DJ3200

B9243AMG

TID > 100krad(Si)

14

1

3

5

200

0 ~ 5V

±2.5

±1

69

74

CPGA40

AD9243

B9240MGRH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

14

1

10

5

320

0 ~ 5V

±3.5

±1.5

68

71

CPGA40

AD9240

B9240MQRH

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

14

1

10

5

320

0 ~ 5V

±3.5

±1.5

68

71

CQFP44

AD9240

B1401RFC

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

14

1

20

2.5

100

2Vp-p

±4

±1

61

65

CFP48

RHF1401

B9942RH

TID > 100krad(Si) SEL > 37MeV •

cm2/mg

14

2

40

3.3

600

0-1V

--

±1

--

--

CCGA100

AD9942BBCZ

B9643RQC

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

14

2

200

1.8

800

1.4 ~ 2Vp-p

±6

±1.5

66

75

CQFP64

AD9643

BA16D310MRBB

TID > 100krad(Si) SEL > 75MeV •

cm2/mg

16

2

250

3.3/1.8

2000

2 ~

2.5Vp-p

±10

(-1 ~ +3.5)

70

75

CBGA144

AD9652